发布网友 发布时间:2022-04-20 09:21
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热心网友 时间:2022-07-11 16:19
此题看起来要使用t检验,
但需要给出样本标准差(题中给出的是已知总体的标准差)
暂且把题目中的已知总体标准差当作样本标准差来处理。
(1)这批电子元使用寿命是否与原来有显著性差异?(双侧检验)
构造
原假设H0:M=1000(无显著差异)
备择假设:M≠1000(有显著差异)
统计量 t=(x¯−μ)/ [S/(n的平方根)]
其中x¯是样本均值,μ是已知总体的均值,S是样本标准差,n是样本数
此统计量服从自由度n-1 的t分布
将数据代入后,得出t=2.5
查t分位数表,自由度为24,显著性水平为0.05的双侧的分位点是2.0
则统计量落入拒绝域,那么拒绝原假设,即有显著差异
2)这批电子元件使用寿命是否有显著性提高?
原假设H0:M≤1000(无显著提高)
备择假设:M>1000(有显著提高)
同样的,t=2.5
不过此时查显著性水平为0.05的单侧的分位点是1.711
则统计量落入拒绝域,那么拒绝原假设,即有显著提高